平面度测量广泛需求在手机玻璃面板，手机外壳，汽车玻璃，柔性电路板等平面类产品。目前测量平面度的方法和工具主要有以下几种：

1、塞尺人工测量平面度。

2、探针采点测量平面度。

3、影像自动对焦采点测量平面度。

4、激光采点测量平面度。

以上几种平面度测量方法优缺点不一，塞尺测量平面度是属于原始的接触测量方式，人工投入成本较高，效率一般，对操作人员要求不高。通过塞尺直接接触产品，经常会划伤工件，而且测量出平面度数值误差较大，误判的几率大。

探针采点测量平面度，计算机软件支持测量，具有精度较高，但是测量速度慢的缺点，不能测量易变形工件的平面度，而且投入成本也不低。

影像测量平面度属于非接触测量的一种，由于是通过光学对焦测量平面度的，操作人员在测量一些玻璃或容易反光的产品，无法实现正常对焦测量。

激光测量平面度同样属于非接触测量，计算机软件支持测量，高度自动化，可编程CNC，效率特别高，测量速度快，测量精度高，重复性精度也高，非接触式测量，能保证工件不受破坏。的缺点就是前期成本投入比其他几种方法高。

 关于激光测量的设备，极志这里有两种类型：

 左边的设备单激光平面度检测仪，采用非接触式测量，激光探头测量，测量准确性高，保证工件的完整性；采用传动模组、模块化设计及全新人性化设计的软件，对屏幕保护膜平面度和翘曲度以及厚度进行率、非接触的测量。

测量重复精度为：0.005mm。

右边的机器是多激光平面度测量仪，如果您的工件需要批量全检，这台机器是您的得力好帮手。它不仅可以根据客户工件需求量身定做规格机型，而且测量精度高、使用方便。

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