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芯片引线框架厚度测量,无损实时显示厚度数据

返回列表 来源:极志测量 浏览:- 发布日期:2021-11-17 22:19:44【

我国的芯片产业还处于发展当中,虽然离行业龙头还有一段距离,但是我相信通过我们积极进取的态度不断突破,在不久的将来就会赶上步伐并超越,当前整个制造业都优先为芯片制造相关的组件,引线框架作为芯片的重要组件之一,需要高精密冲压件制造业帮忙制作。引线框架需要保证良好的导电性与导热性、良好的机械强度等,这些特点都与引线框架自身的厚度息息相关,而引线框架的厚度标准都以um计算,加上其自身的厚度较薄和容易变形,一般的接触式测量工具如卡尺一类根本无从下手,极志双激光厚度测量仪针对引线框架这类易变形、怕瑕疵、精度高的工件定制而成,可以无损高精度测量工作台上的工件厚度。

引线框架厚度测量

激光厚度测量仪采用上下两套进口激光测量系统,非接触式测量方法,防止刮伤产品,可单点测量,也可以多点测量,并通过测量软件保存测量数据,可以设定产品的公差,不合格产品显示出来。上下激光厚度测量仪(ITN-1530)设备体积小、质量轻、方便携带,可用于不透明、高精度工件厚度尺寸的快速测量,除了芯片IC引线框架厚度测量外还可以进行各类工件的厚度测量:如晶片厚度检测、氮化铝陶瓷基板厚度测量、平板电脑锂电池厚度测量、手机锂电池厚度测量、锂电池隔膜厚度测量、铝片厚度测量、液晶玻璃面板厚度测量等。

上下激光厚度测量仪

极志有多款可用于芯片制备行业的测量设备,如有需求欢迎致电极志全国服务热线:020-83515319

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